產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索：
Element美國EDAX能譜儀
EP6美國 Cascade Microtech EP6探針臺
TEM氮化硅薄膜窗口
NTEGRAPrima俄羅斯產(chǎn)全功能掃描探針原子力顯微鏡
Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀
主動隔振臺ARISTT
石英/硅/聚合物模板高分辨率納米壓印模板（Mold for nanoimprint lithography）
P170全自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
iNano高精度臺式納米壓痕儀
PLD/Laser-MBE脈沖激光沉積/分子束外延聯(lián)用系統(tǒng)
P7晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
納米團簇束流沉積系統(tǒng)
Lumina光學(xué)表面缺陷分析儀
Profilm 3D經(jīng)濟三維光學(xué)輪廓儀 可測樣
Solver P47俄羅斯產(chǎn)高性價比掃描探針顯微鏡原子力
納米壓印膠
當前位置：首頁
產(chǎn)品中心光纖光譜儀Nano-IR美國ANASYS納米級近場紅外光譜
產(chǎn)品簡介
可以實現(xiàn)納米級紅獲得樣品化學(xué)性質(zhì)、接觸共振獲得樣品力學(xué)性能、原子力顯微鏡獲得樣品三維形貌、納米熱學(xué)分析獲得樣品熱量傳輸溫度。
Nano-IR納米級近場紅外光譜
紅外光束通過ZnSe棱鏡以傳統(tǒng)的ATR光譜類似的全內(nèi)部反射的方式照射在樣品上。當樣品吸收到輻射時候，該樣品區(qū)域就被加熱。導(dǎo)致其快速的熱膨脹從而激起共振懸臂的震動，該振動被標準的AFM光電二極管測量系統(tǒng)檢測到。這些誘導(dǎo)引起的環(huán)形振動的衰減可以被傅里葉技術(shù)分析并提取處振動的振幅和頻率。之后，通過建立懸臂振動的振幅與波長源的函數(shù)，從而構(gòu)建出本地的吸收光譜。與“遠場”光學(xué)相比，該技術(shù)的特點在于吸收的輻射可以通過*近場的*得到測量。可以實現(xiàn)納米級紅外獲得樣品化學(xué)性質(zhì)、接觸共振獲得樣品力學(xué)性能、原子力顯微鏡獲得樣品三維形貌、納米熱學(xué)分析獲得樣品熱量傳輸溫度。
上一個：
返回列表
